OMT-300TEM 高低温传函仪
OMT-300TEM采用了先进的高空间频率解算技术，低噪声像分析技术以及测量精度误差修正技术，大幅提升了传函测量性能，能精确评估高低温环境下光学系统的成像质量及参数。
| 测量项目 | |
| MTF、PTF、EFL、PSF、LSF、畸变、场曲、像散、相对照度 | |
| 测量范围 | |
| 光谱范围 | 0.4~1.06μm |
| 3~5μm | |
| 样品测温范围 | -40~+400℃（≤ φ20mm） |
| -40~+70℃（φ20~φ300mm） | |
| 测量焦距范围 | 5~1000mm |
| 最大通光口径 | φ300mm（可根据客户需求扩展） |
| 测量空间频率 | 0~500lp/mm |
| 被测镜头重量 | ≤ 30kg |
| 镜头类型 | 无限-有限共轭系统 |
| 测量精度 | |
| MTF测量精度 | ±0.02 |
| MTF测量重复性 | ±0.01 |
| 透过率测量精度 | ±1% |
